日本J-RAS 離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置/導(dǎo)通電阻在線(xiàn)評(píng)估裝置
離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS
VOLTAGE),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~1000小時(shí))并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生(ION
MIGRATION),并記錄阻抗變化狀況,故又叫做CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是OPEN/SHORT試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。(ION MIGRATION TESTING)