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ECM-100離子遷移測(cè)試裝置

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000  小時(shí))并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。( ION MIGRATION TESTING )

在高溫高濕條件下,對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

適用規(guī)格 : JPCA- - ET01- - 2001


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)  

 

簡(jiǎn)單/便利

△采用高端驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè),測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少。

△軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了,能夠非常直觀得操作。

△配有過(guò)程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

△測(cè)試中,設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行,電腦電源切斷也不受影響。

 

高性能&高機(jī)能

△因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測(cè)電路,可以做到16ms的計(jì)測(cè)間隔。

→遷移現(xiàn)象的檢測(cè)能力更高,對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

△一臺(tái)電腦最大可以增設(shè)400通道。

△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

 

可靠性更高&操作更簡(jiǎn)潔

△具有自身診斷機(jī)能,把異常計(jì)測(cè)防范于未然。

△配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。

△每個(gè)單元獨(dú)立,其中一個(gè)單元損壞,可以單獨(dú)拆卸維修,而不影響其他通道使用。

△標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

 

用途

PCB板、焊接、樹(shù)脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測(cè)試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測(cè)試裝置,可以在多領(lǐng)域利用。

 

實(shí)例

△測(cè)試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進(jìn)行測(cè)試。

16msec的高速抽樣處理,不會(huì)漏掉任何一個(gè)數(shù)據(jù)。

△電容器等絕緣電阻的試驗(yàn)也非常合適。


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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:離子遷移測(cè)試、CAF測(cè)試、絕緣電阻值檢測(cè)、離子遷移檢測(cè)設(shè)備、CAF設(shè)備、CAF試驗(yàn)、CAF測(cè)試方法、Conductive Anode Filaments

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