亚洲综合欧美专区_a国产成人免费视频_日韩欧美另类自拍_国产精品一区色欲网_青青热久免费精品视频18_东京热AV深爱五月天_小学女生隐私倍位的软件_东流影院欧美久久精品_国产一级中文字幕_亚洲成熟人网站

產(chǎn)品中心

產(chǎn)品中心
關(guān)于我們 產(chǎn)品中心 項目展示 新聞資訊 服務支持 聯(lián)系我們
日本J-RAS
美國 INTEPRO 日本HIRAYAMA 日本J-RAS 美國ANATECH 日本HITACHI 美國 MTS 日本YAMATO 日本 HAMRON 氣體腐蝕試驗箱 日本 Hamanetsu

HVUα_2000V離子遷移實驗裝置

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000  小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF  試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001


HVUα_2000V離子遷移試驗裝置-1.jpg

HVUα_2000V離子遷移試驗裝置-2.jpg

HVUα_2000V離子遷移試驗裝置-3.jpg

HVUα_2000V離子遷移試驗裝置-4.jpg

1664423240 122648195 1808262573

13570829212 13823559120 13316818270

返回頂部